涉案專利：導(dǎo)電粘合劑（公開號(hào)：CN103108932A，無效宣告請(qǐng)求審查決定第46054號(hào)）；

此外，涉案專利還記載了：“在本發(fā)明中使用的術(shù)語‘平均粒徑’是指累計(jì)體積分布曲線的D₅₀值，在該值處，50體積%的粒子具有小于該值的直徑。在本發(fā)明中平均粒徑或D₅₀值通過激光衍射法測(cè)定，優(yōu)選使用得自Malvern Instruments Ltd.的Malvern Mastersizer2000測(cè)定。在該技術(shù)中，基于應(yīng)用Fraunhofer或Mie理論，使用激光束的衍射測(cè)定懸浮體或乳液中的粒子的尺寸。在本發(fā)明中，適用Mie 理論或用于非球形粒子的改進(jìn)的Mie理論，并且平均粒徑或D₅₀值涉及相對(duì)于入射激光束在0.02-135度的角度的散射測(cè)定值?！币布矗?strong>明確了專利文本中的平均粒徑是通過激光衍射法測(cè)定的D₅₀值。

在上述案件的無效程序中，請(qǐng)求人提出涉案專利相比于證據(jù)1不具有新穎性，其中，證據(jù)1公開了：

一種導(dǎo)電性粘合劑組合物，包括（a）非導(dǎo)電性基礎(chǔ)樹脂，分散在基礎(chǔ)樹脂中的導(dǎo)電顆粒（b），導(dǎo)電顆粒（b）由以下成分組成：以（a）、（b-1）和（b-2）的總重量為基準(zhǔn)，10-75%的平均粒徑至少1微米的磨粒狀導(dǎo)電性顆粒（b-1），以及以（a）、（b-1）和（b-2）的總重量為基準(zhǔn)，0.2-20%的平均粒徑不大于0.5微米的導(dǎo)電微粒（b-2）。其中，顆粒（b-1）具有至少1微米的平均粒徑，例如1至100微米，優(yōu)選1至80微米，特別優(yōu)選1至50微米；磨粒狀顆粒（b-1）與微粒（b-2）的重量比（b-1）：（b-2）為100：1-100：70，優(yōu)選100：3-100：45。

由于證據(jù)1中并未記載平均粒徑的定義和測(cè)定方法，因此，專利權(quán)人提出，涉案專利和證據(jù)1二者的平均粒徑無法比較。

本領(lǐng)域存在多種微米、亞微米顆粒平均粒徑的定義和測(cè)量方法，即使光散射法目前處于主導(dǎo)地位，也無足夠的證據(jù)表明證據(jù)1中導(dǎo)電性顆粒的平均粒徑是采用光散射法測(cè)量得到的D₅₀值，且證據(jù)和反證可知，不同定義及測(cè)量方法測(cè)量得到的平均粒徑的數(shù)值可能相差較大，如可能“相差三倍之多”或“有數(shù)量級(jí)的區(qū)別”，從而“對(duì)幾種粉體的平均粒徑進(jìn)行比較時(shí)，必須要用同一種平均粒徑，否則無法進(jìn)行比較或?qū)е洛e(cuò)誤的結(jié)論”，在此情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員無法確認(rèn)證據(jù)1中導(dǎo)電性顆粒的平均粒徑是采用光散射法測(cè)量得到的D₅₀值，進(jìn)而也無法確認(rèn)證據(jù)1中磨粒狀導(dǎo)電性顆粒（b-1）和導(dǎo)電微粒（b-2）的平均粒徑數(shù)值落入本專利微米級(jí)導(dǎo)電粒子和亞微米導(dǎo)線粒子平均粒徑數(shù)值范圍內(nèi)。由于本領(lǐng)域技術(shù)人員無法將證據(jù)1中的磨粒狀導(dǎo)電性顆粒（b-1）和導(dǎo)電微粒（b-2）分別對(duì)應(yīng)于本專利的微米級(jí)導(dǎo)電粒子和亞微米級(jí)導(dǎo)電粒子，從而證據(jù)1也未公開所述微米級(jí)導(dǎo)電粒子與亞微米級(jí)導(dǎo)電粒子的含量及重量比。

因此，涉案專利權(quán)利要求1和證據(jù)1的區(qū)別特征包括“本專利權(quán)利要求1中微米級(jí)導(dǎo)電粒子和亞微米級(jí)導(dǎo)電粒子的平均粒徑是采用激光衍射法測(cè)量得到的D₅₀值，而證據(jù)1未公開所述磨粒狀導(dǎo)電性顆粒（b-1）和導(dǎo)電微粒（b-2）的平均粒徑的定義和測(cè)量方法，二者的平均粒徑無法比較。”從而本申請(qǐng)權(quán)利要求1相對(duì)于證據(jù)1具備新穎性。

從以上案例可知，測(cè)定方法的記載在無效程序新穎性判斷中具有關(guān)鍵作用，現(xiàn)有技術(shù)中性能參數(shù)的公開并不意味著必然會(huì)導(dǎo)致專利的權(quán)利要求不具備新穎性，其還受到該性能參數(shù)對(duì)應(yīng)測(cè)定方法的影響，進(jìn)而導(dǎo)致性能參數(shù)之間無法直接比對(duì)。

《審查指南》關(guān)于“化學(xué)產(chǎn)品發(fā)明的充分公開”中記載：“對(duì)于表示發(fā)明效果的性能數(shù)據(jù)，如果現(xiàn)有技術(shù)中存在導(dǎo)致不同結(jié)果的多種測(cè)定方法，則應(yīng)當(dāng)說明測(cè)定它的方法，若為特殊方法，應(yīng)當(dāng)詳細(xì)加以說明，使所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員能實(shí)施該方法。”

可見測(cè)定方法在說明書公開與否的關(guān)鍵作用。當(dāng)然，在申請(qǐng)文本未記載實(shí)際測(cè)定方法等內(nèi)容時(shí)，審查員并不必然會(huì)作出說明書公開不充分的認(rèn)定，但在作出創(chuàng)造性認(rèn)定之時(shí)，會(huì)質(zhì)疑測(cè)試結(jié)果的可靠性，進(jìn)而不認(rèn)可相應(yīng)的效果。具體舉例如下所示：

審查意見指出：